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國立臺灣大學(xué)Yulia Galagan等人開發(fā)了一種簡單的JV參數(shù)光強(qiáng)度分析方法，可以了解太陽能電池中出現(xiàn)的機(jī)制和限制設(shè)備性能的原因。所開發(fā)的方法得到漂移擴(kuò)散模型的支持，旨在幫助解釋鈣鈦礦太陽能電池中界面或體復(fù)合、串聯(lián)或分流電阻的寄生損失。
 

這種方法不僅可以幫助指出器件中批量或界面重組的主導(dǎo)地位，還可以確定哪個界面更有缺陷。為此類JV參數(shù)的光強(qiáng)度分析提供了詳細(xì)和逐步的指導(dǎo)。所提出的方法和本研究的結(jié)論得到了一系列案例研究的支持，顯示了所提出的方法在實(shí)際例子中的有效性。
 

 

 

 

 原標(biāo)題：AM: 鈣鈦礦太陽能電池光伏參數(shù)光強(qiáng)分析