編者按:PV Evolution Labs(PVEL)近期正在增加新的測(cè)試方案,方案中增加背板耐久性和熱輔助光致衰減敏感性?xún)?nèi)容可以解決日益增長(zhǎng)的、與熱輔助光致衰減敏感性相關(guān)的問(wèn)題 ,更好的響應(yīng)下游市場(chǎng)需求。
PV Evolution Labs(PVEL)在光伏組件產(chǎn)品鑒定計(jì)劃(PQP)中包括了許多重要的組件可靠性測(cè)試,這令鑒定計(jì)劃可以更好的響應(yīng)下游市場(chǎng)需求。
PVEL正在增加新的測(cè)試方案,用于解決日益增長(zhǎng)的、與熱輔助光致衰減敏感性相關(guān)的問(wèn)題。 PVEL還會(huì)解決長(zhǎng)期存在的、與光伏組件背板耐久性以及太陽(yáng)能電池微裂紋敏感度相關(guān)的問(wèn)題。
PV Tech最近表示,杜邦公司光伏與先進(jìn)材料最新發(fā)布的“全球光伏可靠性研究”顯示,與2018年報(bào)告相比,缺陷率大幅增長(zhǎng)了47%。該研究報(bào)告的重心是650萬(wàn)塊組件背板材料的現(xiàn)場(chǎng)檢查和分析。
PVEL指出,它至少更新了一個(gè)區(qū)域PQP中的所有序列內(nèi)容。
PVEL還減少了所需的光伏組件樣本總量,同時(shí)將熱循環(huán)等測(cè)試的測(cè)試時(shí)間縮短了25%,在保持?jǐn)?shù)據(jù)質(zhì)量和完整性的同時(shí)提供了更快速的報(bào)告。公司表示,這部分內(nèi)容是通過(guò)更好的輸入信息和界定流程實(shí)現(xiàn)的。
PV Tech與DNV GL合作對(duì)PVEL的第5版光伏組件可靠性記分卡進(jìn)行了詳細(xì)分析。分析使用了更嚴(yán)格的測(cè)試機(jī)制,用于解決對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象了解有限的問(wèn)題。
原標(biāo)題:PVEL組件測(cè)試擬增加背板耐久性和熱輔助光致衰減敏感性?xún)?nèi)容