PID是一種存在于高壓光伏系統(tǒng)中由于較高的接地電位而產(chǎn)生的衰減機(jī)制,并且與系統(tǒng)的規(guī)模和極性相關(guān)。近年來的1000-1500V系統(tǒng)的流行趨勢增加了高電位PID對光伏組件的影響。盡管由高壓應(yīng)力而導(dǎo)致的衰減早在1978年即由JPL發(fā)現(xiàn)[1],后因?yàn)镾wanson在SunPower的組件中發(fā)現(xiàn)了極性導(dǎo)致的衰減,從而使得PID的概念在2005年得以明確[2]。但是,這一問題并未在IEC 61215和IEC 61646等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)中進(jìn)行規(guī)范,因此,一項(xiàng)新的測試模型,IEC 62804 TS,正被逐步建立。
受PID影響的太陽能電池會損失80%或更多的功率[3]。某座受PID影響的電站中光伏組串上出現(xiàn)了超過40%的輸出功率縮減[4]。這種功率損失的程度反過來影響到了光伏系統(tǒng)的運(yùn)行和融資;因此,為確保運(yùn)行期間的令人滿意的穩(wěn)定性與組件性能,在問題的初期就對其進(jìn)行分析、提出解決方法是極為重要的。
PID機(jī)制
組件內(nèi)存在的高電勢導(dǎo)致了PID的出現(xiàn),從而使得電池及其他零部件間出現(xiàn)漏電流,最終導(dǎo)致功率下降。如彼得·哈克(PeterHacke)博士在2015 NREL光伏可靠性研討會(PVReliability Workshop)上所述,漏電流并非評估組件質(zhì)量時(shí)的測試對象,而是用來檢測組件是否受PID影響的一個(gè)參數(shù)。很多機(jī)制可導(dǎo)致PID的出現(xiàn),但并非所有原因都已被充分研究理解。
場效應(yīng)模型是研究人員在解釋可導(dǎo)致PID的分流現(xiàn)象成因時(shí)最為常用的模型[5, 6]。Bauer等人[6]發(fā)現(xiàn),在使用特定EVA和氮化硅抗反射涂層(ARC)時(shí),受到PID影響的組件通常會出現(xiàn)鈉離子從前表面向太陽能電池的遷移。對此的一個(gè)解釋是,在遷移過程中,帶電離子在電池表面聚集,產(chǎn)生電場,并且由于抗反射涂層的存在,所產(chǎn)生的電場抵消了鈍化工藝,從而增加了表面重組、降低了功率輸出。離子還可能擴(kuò)散至硅層,造成發(fā)射區(qū)域反型,導(dǎo)致電池分流[7],如圖一所示。同樣地,在一些薄膜組件中,PID被與金屬離子在邊框和電池間的遷移相聯(lián)系,并且在使用了鈉涂層基底的組件上可觀察到較為明顯的衰減現(xiàn)象[8]。