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PID檢測(cè)技術(shù)

如果不進(jìn)行檢測(cè)，PID能夠發(fā)福降低電站性能。一些常用的PID檢測(cè)技術(shù)包括電致發(fā)光成像(EL)、紅外成像(IR)，以及I–V曲線測(cè)試，后者對(duì)功率和運(yùn)行電源上出現(xiàn)的下跌進(jìn)行檢測(cè)。圖三顯示了某組件的在進(jìn)行PID測(cè)試前后的EL圖像：圖中暗區(qū)代表組件由于測(cè)試而出現(xiàn)的衰減。深淺I–V可用來進(jìn)行PID檢測(cè)，因?yàn)槭苡绊懙奶柲茈姵貢?huì)降低組件效率和運(yùn)行電源；此外，那些受到嚴(yán)重影響的產(chǎn)品會(huì)由于分流而出現(xiàn)開路電壓降低的狀況。