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在2014年，鋁箔測試方式作為環(huán)境模擬艙測試方式的一種簡單、低成本替代方式，被收入IEC 62804 TS測試標準[23]。該測試方法使用導電箔覆蓋組件表面，并在25oC、低于60%RH的環(huán)境下施加系統(tǒng)額定電壓168小時以進行測試[23]。FraunhoferCSE所進行的不同測試方法的比較實驗表明，與鋁箔測試法相比，使用環(huán)境模擬艙進行的實驗所得結果具有更好的統(tǒng)一性、控制性和可重復性[24]。FraunhoferCSE實驗室因此選擇以IEC62804為標準的環(huán)境模擬艙測試方式進行PID測試，如圖四所示，并作為“光伏耐久性倡議”(PVDI) [25]的一部分對多種組件進行了測試。PVDI首輪測試的結果表明，在前50個小時的測試中，即可檢測到PID的易感性，從而進一步支持了IEC標準中96小時的測試時長規(guī)定。然而，為增加測試的嚴格程度，并檢測出組件中的晚發(fā)性PID，首輪測試持續(xù)至96小時以上，并使用臨時表征進行了額外兩次重復測試。更為嚴格的測試可確保組件在其使用壽命周期內能夠可靠地運行。

未來發(fā)展

自從PID現象在近期被發(fā)現以來，市場上出現了對可靠、可比較的額外現場數據的需求，以更好地理解相關機制并建立更為可靠的方式來避免該現象的出現。阿特斯太陽能[27]、REC[28]和SunPower[29]等公司是多個開發(fā)無PID組件制造商中的幾家，其產品特性也經過了獨立測試機構的鑒定。盡管對組件進行測試可顯示出相關產品具有抗PID能力，但在全球標準和產業(yè)認可的“無PID”定義被開發(fā)界定之前，這種方法無法受到有效監(jiān)管。由于存在發(fā)射極反型造成的分流導致了PID的發(fā)生這種假設，因此，為更好地理解PID的形成機制需要進行進一步的研究；然而，FraunhoferISE的實驗結果卻表明反型機制不足以用來解釋PID的形成。此外，盡管在發(fā)生PID狀況時通常會觀察到Na+的出現，其在PID的成因中所扮演的角色仍不明確。

由于不同光伏電站中的組件在不同的時間點上發(fā)生了PID現象，組件表現出PID易感性所需要的時間也仍未完全明確。為確定能夠在實驗室測試中模擬現場組件PID發(fā)生狀況所使用時間相關加速參數，還需要進行進一步的研究和測試；一些機構已經在這一領域內展開研究[30, 31]。目前需要制定標準測試方式以準確地確定可應用于不同地點和技術的加速參數。

總結來說，光伏產業(yè)在確認、解決PID現象時采取了積極主動的態(tài)度，詳盡的研究也正在進行當中，以期能夠在系統(tǒng)、組件和電池層級上了解該現象的不同方面。因此，目前產業(yè)正致力于確認導致PID現象的因素，并為標準化PID測試起草測試方式，同時開發(fā)多種緩解技術。但是，額外的研究仍舊是發(fā)展的關鍵，只有這樣才能進一步地對PID現象進行了解，并防止其成為光伏產業(yè)強勁發(fā)展道路上的障礙。